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在固體分析分光光度計專家U-4100的基礎上實現(xiàn)了進一步的技術提高, UH4150問世!
更新時間:2016-09-02
日立紫外/可見/近紅外分光光度計UH4150
產(chǎn)品介紹:
在固體分析分光光度計專家U-4100的基礎上實現(xiàn)了進一步的技術提高, UH4150問世!
UH4150是積分球分光光度計產(chǎn)品專家,半導體、光學元件、新型材料的光譜性能研究,是功能zui強勁的分光光度系統(tǒng)。UH4150是固體、液體和渾濁樣品測試的高性能系統(tǒng)。
技術參數(shù):
光譜帶寬: | 0.1nm | 波長準確度: | ±0.2nm |
雜散光(S.L.): | ±0.00008%T | 波長范圍: | 175nm~3300nm |
自動程度: | 自動波長 | 波長范圍: | 紫外可見近紅外 |
接收器類: | 光電二極管陣列 | 儀器結(jié)構: | 雙光束 |
技術特點:
(1) 切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定。
由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構技術和信號處理技術等,將檢測器切換時(信號水平的差異)吸光度值的變化降到zui小。
(2) 日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振。
棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。
(3) 平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定。
平行光束,相對于樣品入射角始終相同,實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外,平行光束可用于擴散率(霧度)的評價和透鏡透過率的測定。
(4) 可提供適合不同測定目的的多種檢測器。
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球
(5) 采用全新人體工學設計。
改進樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學的設計。
(6) 兼容多種U-4100附件。
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸,適合更多的測定類型。
(7) 比U-4100型更高的樣品通量。
UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定,顯著縮短測定時間。
應用領域:
液體、渾濁液體、固體均可適用。可實現(xiàn)包括粉末、玻璃、光學薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學、電子設備材料的吸收/透過率/反射率的無損測試。廣泛應用于半導體、光學元件、光電設備、新型材料的光譜性能研究,獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數(shù)據(jù)。