日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列，（SU8220，SU8230，SU8240）冷場掃描電鏡采用全新設計的冷場發(fā)射電子槍，其不僅*秉承以往冷場發(fā)射掃描電鏡全部優(yōu)點，還大幅提高了探針電流，并極大增強了電流的穩(wěn)定性。這些優(yōu)點使得在低加速電壓下，可長時間連續(xù)實現(xiàn)高分辨觀察和分析功能。
日立新型高分辨場發(fā)射掃描電鏡SU8000系列，是被廣泛認可的S-4800的升級機型，活躍于各*研究與分析領域的Z前沿。其搭載性能優(yōu)異的冷場發(fā)射電子槍，采用日立設計的Super E×B能量過濾技術，以高分辨為目的，為科研工作者觀察納米尺度的微細結構提供更可靠的幫助。
電子顯微鏡用耗材和備件，包括擋板、燈絲、光闌等
電子顯微鏡用樣品臺CHEET-EM-001
S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● Z大可載樣品直徑達300mm ● Z大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝EDS、WDS、EBSD和CL等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾斜--20°~+90° ● 采用節(jié)能，清潔的渦輪分子泵
由于采用了模塊化設計，DSC1 作為 METTLER TOLEDO 熱分析超越系列的一個組成部分，是人工或自動操作的Z佳選擇，適用于從生產到質量保證和技術研發(fā)。 DSC 采用創(chuàng)新的、配備 120 個熱電偶的 DSC 傳感器，確保具有的靈敏度。 高靈敏度 – 用于測量微弱的效應 出色的分辨率 – 分離接近重疊效應 模塊設計 – 可以在未來實現(xiàn)拓展以滿足新的需求
5300E是一款真正的環(huán)境可控型原子力顯微鏡，可通過簡單的操作來選擇高真空環(huán)境、空氣環(huán)境、液體環(huán)境、濕度環(huán)境、特種氣體環(huán)境、或變溫環(huán)境。 在高真空環(huán)境下一方面可防止樣品表面水膜的形成，提高樣品掃描分辨率和表面物理性能測試測量的準確性，另一方面可通過Q值的提高來提高AFM掃描靈敏度，進而提升圖像的分辨率，同時在真空環(huán)境下測量還可避免易氧化樣品的表面氧化。
XE-NSOM –用于各種光學應用的完備的AFM 系統(tǒng) XE-NSOM是Park Systems專為高級光學研究而精心設計的一款專業(yè)產品，該儀器具備近場掃描光學顯微鏡（Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM）、拉曼光譜儀 （Raman Spectrometry）和共聚焦顯微鏡（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 為此類光學
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